通知公告

分析测试中心JEM-ARM300F透射电镜试运行通知

发表时间: 2024-03-29 09:17:35

分析测试中心购买的日本电子JEM-ARM300F透射电镜,现已完成部分功能调试,将于202441日开始试运行。欢迎老师同学前来咨询测试!

安置地点:哈尔滨工业大学科学园B1102室

设备负责人:邹永纯

联系电话:15045082576

一、测试功能

  • 明场像(开放)
  • 高分辨像(开放)
  • 能谱:元素含量定性、半定量分析(开放)
  • STEM原子像(暂不开放)
  • EELS(暂不开放)
  • 电子全息(暂不开放)

二、样品要求

磁性粉末样品(试运行期间)

三、技术指标

  • 加速电压:300 kV, 200 kV, 80 kV, 60 kV
  • TEM晶格分辨率:50 pm@300 kV
  • TEM信息分辨率:60 pm@300 kV
  • STEM分辨率:52 pm@300 kV
  • EDS分辨率:优于133 eV
  • EELS分辨率:优于0.35 eV

四、应用领域及特色

该设备可用于材料、物理、化学、生物等各领域样品表面微观形貌、结构分析,原子级成像及成分分析、元素成分定性、半定量分析。

特色1:物镜校正成像


特色2:选区电子衍射


特色3:材料的原子尺度观察


特色4:材料的原子尺度成分分析


特色5:电子全息成像


五、收费标准(试运行阶段,教师操作)

  • TEM功能(明场像、高分辨像、能谱):校内1100/小时;校外1800/小时

    STEM功能(原子像、原子级成分分析):校内1500/小时;校外2500/小时

六、备注

  • 由于目前仅完成TEM功能调试,试运行期间只开放TEM功能,且只对校内开放;
  • STEM原子像功能具备开放条件时,将第一时间在中心网站发布开放通知,敬请关注。


分析测试中心

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