分析测试中心的原位多功能透射电镜目前已经完成安装调试并投入运行。欢迎老师同学前来咨询测试!该设备安放地点、联系方式、测试功能及技术指标等如下:
安放地点:
哈尔滨工业大学科学园B1栋104
设备负责人:
郑振
联系电话:
18045012582
测试功能:
1. 材料进行超微结构观察;
2. 纳米颗粒形貌和粒径观察;
3. 选区电子衍射和晶体结构分析;
4. STEM样品表面结果观察;
5. 样品元素点、线、面分析;
6. 利用原位样品杆可以实现材料原位力学、热学、电学透射表征。
技术指标:
1. 配置超高亮度高稳定度的肖特基场发射电子枪;
2. 加速电压:20–200 kV,连续可调;
3. TEM模式信息分辨率:0.12 nm;点分辨率:0.25 nm;线分辨率:0.10 nm
4. STEM模式分辨率:0.16 nm;
5. STEM 模式图像最大像素:4096×4096;
6. 五轴优中心高精度自动样品台,观察点位置可以标记存储并返回;
7. 数字化成像系统配有一体化超高速高动态观察数字相机;
8. 能谱仪采用四个无窗设计 SDD 硅漂移探测器构成的完全旋转对称分布设计的多探头系统;
9. 探测器有效探测面积:120 mm2;
10. 原位热学单热场最高温度可达1300 ℃;
11. 原位力学最大驱动力:100 mN;最大驱动行程:4μm;
12. 原位电学最大电场:100kV/cm;电压:0-200V;电流:1pA-1A。
应用领域:
该设备可用于材料、机械、地质、物理、化学、生物等各领域样品微观形貌结构分析,拍摄样品透射电镜明场像、暗场像,进行样品选区电子衍射,样品形貌STEM和能谱分析。可以对样品进行原位力学、热学和电学透射分析研究。
特色1 丰富的透射表征结果
![](/!upload/image/20240519141424_62701.png)
明场像结果
暗场像结果
不同模式下衍射结果
HRTEM结果
不同模式下STEM结果
特色2高质量超级能谱组成成分分析
STEM元素mapping结果
特色3 透射电镜原位力学性能测试
孪晶双晶 Ni 样品原位拉伸过程中晶界转动与不均匀变形过程
特色4 力热耦合条件下透射原位测试
高熵合金 950 ℃力热耦合条件下裂纹的自修复过程
特色5 透射电镜原位电学测试
硫属半导体微结构演变与电学性能关
收费标准(试运行):
TEM功能(时段预约)
教师操作800元/小时;
自主操机:500元/小时(8-17时);450元/小时(17-24时);400元/小时(0-8时)
原位测试功能(送样预约)
原位力学:8000元/个(不含制样、耗材);原位热学:5000元/个(不含制样、耗材);原位电学:6000元/个(不含制样、耗材)。
TEM原位测试属于风险高、成功率低测试项目,无法保证成功率。TEM原位测试收费不包含FIB制样收费、原位测试芯片费用,多个样品收费八折。
分析测试中心